Darryl W赫兹和理查德M荷兰Ebasco环境服务
1.0介绍
许多电子公司在加州创建大量的废物通过加工或生产砷化镓砷(砷化镓)微芯片。因为砷在污水或污泥的浓度通常超过限制污水处理和城市垃圾填埋场,经常这些废物处理和处置类有害垃圾填埋。这种做法是不可取的环境和经济上为废物处理长效机制。
惠普公司(HP)目前砷化镓(砷化镓)微电子芯片制造工厂在圣何塞,加利福尼亚。生产过程中产生氢氟酸溶液中含有大量的砷以及无害成分。氢氟酸的解决方案是目前与石灰中和收益率氟化钙污泥含有高含量的砷。其他电子公司利用很少或没有治疗和拖整个废卷处理存储和处置设施(tsdf)。1985年,惠普887500加仑的氢氟酸生产废水和25219加仑的氟化钙污泥。
这个项目的第一阶段审核各种流程减少,回收和/或治疗含砷废物的方式,土地成本和处理都显著降低。评估的方法包括在不同的生产阶段,但不限于,分离、沉淀/固定、离子交换、胂的一代。信息从第一阶段适合试点规模处理设施的设计。
目前二期的发现表明,目前的过滤微粒从废水流之前进入惠普的氢氟酸的(高频)污水处理设施将导致以下好处:
o出售约100000美元的潜在收入的处理设施固体(氟化钙- CaF2)
害怕o 35000每年处理成本节约o在砷化镓增加所带来的收入每年5000美元回收o惠普的维护和健康和安全管理成本应该每年减少了15000美元
2.0生产过程和废物流描述
2.1砷化镓芯片制造过程的描述
简要描述所需的主要步骤生产砷化镓芯片在惠普的圣何塞设施。
锭生长
元素镓和砷的形式,加上少量的掺杂剂材料,硅,碲或铬-反应在升高的温度下形成的掺杂单晶砷化镓锭。
大部分多晶砷化镓化合物的反应通常是由与Ga金属在高温蒸汽密封的石英安瓿瓶如图2.1 - 1所示。一个进程获得有利的商业生产批量单晶砷化镓如图2.1 - 2所示。这里,大部分砷化镓融化和单晶正在慢慢退出。单晶砷化镓锭必须喷砂清洗去除表面氧化物和污染物。
晶片处理
锭裁剪
单晶锭的结束或尾巴被使用水润滑刮刀金刚石锯,各种冷却剂添加到水。
晶圆切片
砷化镓锭蜡安装到石墨梁和锯成单个晶圆通过使用自动操作的内径(ID)金刚石刀片锯。这个操作完成湿使用润滑剂和生成砷化镓泥浆。
研磨
晶圆是蜡使用热板安装在研磨机,并轻拍一组机器施加转速和压力。研磨的解决方案是美联储在研磨表面氧化铝构成泥浆,甘油和水。经过短暂的研磨时间,晶片热板下马,在肥皂溶液清洗并擦干。
图2.1 - 1系统密封的石英安瓿砷化镓的增长

1390年。
1160年。
790 -
距离
图2.1 - 2液封装CZOCHRALSKI (LEC Cz)系统174锭的增长

抛光
晶片的物理安装机械抛光机,使用碳酸氢钠,5%氯,水和硅溶胶泥浆。
外延生长
单晶砷化镓晶片是用作非常薄层的生长基质相同的或其他III-V化合物所需的电子或光学性质。这样的晶体生长,底物的结晶度和方向决定了生长层,叫做外延,多种外延生长技术用于III-V显示器和设备生产。
反应堆的加载和卸载
脱脂和抛光晶片最初收到PRE-EPI腐蚀和清洁步骤。这涉及到一个连续的湿化学浸渍操作利用硫酸、过氧化氢和水;德-离子水冲洗;最后,一个异丙醇清洗/干燥。
腐蚀周期执行在生长周期的结束和新的石英反应堆清洁的室内表面杂质。
反应堆清洁
每一个生长周期后,反应堆必须打开,晶片移除,降低反应堆物理清洗的一部分。较低的石英反应器和底部板(底板)是使用金属工具刮干净,和微粒物质(砷化镓、GaAsP、砷氧化物、磷氧化物)被收集在一个金属容器定位低于垂直反应堆。
设备制造
砷化镓晶片的上表面外延生长层GaAsP收益到设备工艺处理序列。
湿式蚀刻
各种湿化学酸混合解决方案用于塑料浴本地疲惫的腐蚀。使用的主要酸硫氢氟酸的,盐酸和磷酸。在硅处理,使用过氧化氢硫酸和氢氧化铵(摘要)提供了一种腐蚀性的腐蚀。
Backlapplng
Backlapping做是为了去除沉积材料背后的晶片。晶圆是蜡安装研磨机板和湿法研磨硅溶胶泥浆。
2.2废水的化学特性
为了开始努力减少废物,必须完成一个完整的化学过程的评价。这个评估需要的总合作机构的管理、业务主管、操作人员和维护人员。惠普的圣何塞设施管理和员工为总合作评估,使砷浪费修订一个可以实现的目标。
识别所需的所有可能的来源的砷教育研究者通过书面文学,由惠普的员工讲座,示范和解释通过惠普的过程操作主管和员工。这种教育是最主要的领域之一惠普touchpad的合作和知识的工具和过程的化学特征对砷,而全面。
图2.2 - 1说明了砷废水流经设施。前三个砷的来源被认为是轻微和可溶性砷组成。这些废水直接流到高频preholding坦克和不参与泥浆的恢复过程。样本采集这些来源要求操作员进行清洗过程与毕业典礼在一个容器体积测量。采集标本后,流程完成。砷分析在这一分析的清洗解决方案和测量和锭的数量或晶圆清洗或蚀刻,计算总砷的贡献。
测量流16日和17日为同一原因流11和12。也就是说,评价粒度分布和泥浆恢复过程评估。发现入口流体成分是高度依赖晶圆制造业务被执行。这个障碍,在一定程度上,决定使用砷化镓减肥数据等文件,而不是评估基于非均衡状态采样数据。
化学分析的高频处理系统污泥饼(# 18)表明,这种材料被认为是极危险仅仅因为砷的含量。废料提取测试(湿)表明,该砷是极惰性形式及其浓度升高,即使在它产生湿试验结果无危险的渗滤液。我们的结论是,砷的含量减少了50%的污泥饼会产生的固体材料分为无害加州除了氟含量。
砷的其他废物流分析惠普设备完成了化学表征。所示结果列入表2.2 - 1和图2.2 - 2、2.2 - 3和2.2 - 4。图2.2 - 2表明平均砷的来源和数量重量生产惠普的圣何塞设施(表2.2 - 1数据列2)。最重要的一点是,几乎所有的砷(大约94%)流浆的高频处理系统是恢复过程,本质上是所有固砷化镓颗粒。其余部分完全是可溶性砷的清洁和腐蚀过程。
图2.2,表2.2 - 1中3展示信息列表(数据列三)和说明了砷从每个源产生的相对量对砷化镓砷固体目前回收站点,作为危险废物的处置污泥饼的高频处理系统。每日液体流量表示在图2.2 - 4和表2.2 - 1。在这里,最重要的结论是,一个废物流的流量每天大约八(8)加仑GaAs-laden液体溢出的高频处理系统负责大约94%的污泥饼的砷固体。
总之,砷固体(砷化镓)代表至少94%的砷污染中发现心衰治疗过程中产生的污泥饼。这些固体产生物理锯,研磨和抛光操作和溢出液体从泥浆中恢复过程。删除这些固体从这水流过滤高频处理过程的技术似乎是最直接和简单的过程从化学工程的角度来看。虽然过滤是可能的,其他的评论
图2.2 - 1
目前芯片制造砷废水流程图
图2.2 - 1
目前芯片制造砷废水流程图

表2.2 - 1砷处理废水数据总结
砷的百分比
砷心力衰竭治疗总砷可溶性砷
流液体流量率系统和浓度百分比浓度
流源(加仑日)(磅/ MO)回收固体(毫克/升)固体(毫克/升)
1。 |
锭清洁 |
0.6 |
0.03 |
0.04 |
< 0.1 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
2。 |
湿式蚀刻 |
0.66 |
0.93 |
< 0.1 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
3所示。 |
炉清洗 |
< 0.1 |
0.02 |
0.03 |
< 0.1 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
4所示。 |
锭磨 |
166.0 |
51.43 |
72.76 |
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5。 |
锭裁剪 |
10.2 |
1.43 |
2.02 |
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6。 |
晶圆他们c |
11.81 |
16.71 |
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7所示。 |
晶片分析 |
0.60 |
0.84 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
8。 |
Lappi ng |
0.77 |
1.09 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
9。 |
施波尔我吴 |
0.23 |
0.32 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
10。 |
Backlapping |
3.70 |
5.23 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
11。 |
冷却液侧循环液体 |
1。0 |
18 |
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12。 |
Non-Coolant侧循环液体 |
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13。 |
溢出惠普系统 |
7.8 |
11.09 |
15.69 |
1。1 |
15 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
14。 |
Preholding坦克输出 |
5000年 |
11.80 |
16.69 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
15。 |
贮槽输出 |
5000年 |
11.80 |
16.69 |
1。0 |
20. |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
16。 |
冷却液侧入口流体 |
1。3 |
20. |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
17所示。 |
Non-Coolant侧入口流体 |
6。9 |
210年 |
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18岁。 |
高频系统污泥饼 |
10.85 |
16.69 |
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19所示。 |
155000年 |
1.18 |
0.0 |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
20. |
泥浆回收固体 |
0 |
58.88 |
83.31 |
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21。 |
污水下水道系统 |
170000年 |
2.13 |
- - - - - - |
0.05 |
< 0.1 |
0 |
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22。 |
建筑90高频和废水 |
0.0 |
< 0.05 |
< 0.1 |
< 0 |
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23。 |
建筑91高频和废水 |
0.0 |
< 0.5 |
< 0.1 |
图2.2 - 2 目前芯片制造砷过程浪费流程图砷生产速度 M有限公司 高频&洗舱水23 锭清洁 0.03磅/莫 湿式蚀刻 0.66磅/莫 炉清洗3 0.02磅/莫 0.71磅/莫 回收 锭磨 51.43磅/莫 锭裁剪 1.43磅/莫 晶圆切片 11.81磅/莫 晶片分析7 0.60磅/莫 冷却剂 边浆复苏 回收 研磨 0.77磅/莫 研磨
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